缺(que)陷磁痕的評定可采(cai)用以下規定： 

1）除確認顯示(shi)痕跡(ji)是(shi)由外(wai)界幾何(he)因(yin)素(su)或操作(zuo)不(bu)當造成的之外(wai)，其他大于或等(deng)于0.5mm的顯示(shi)痕跡(ji)均(jun)應作(zuo)為缺陷(xian)側很處理；

2）長(chang)度(du)與(yu)(yu)寬度(du)之(zhi)比大(da)于(yu)3的缺陷顯示(shi)磁痕，則(ze)(ze)按線性缺陷處(chu)理；長(chang)度(du)與(yu)(yu)寬度(du)之(zhi)比小于(yu)或等于(yu)3倍的缺陷顯示(shi)跡痕，則(ze)(ze)按圓形(xing)缺陷進行處(chu)理；

3）兩(liang)條(tiao)或(huo)兩(liang)條(tiao)以上缺陷顯(xian)示跡痕在同一直線上，其(qi)間距小(xiao)于或(huo)等于2mm時，則按(an)一條(tiao)缺陷處理，其(qi)長度(du)(du)為顯(xian)示跡痕長度(du)(du)之和(he)加間距；

4）磁粉檢(jian)驗的所有缺陷磁痕(hen)(hen)的尺寸、數量以及產生部位均應記(ji)(ji)錄(lu)，并圖示。磁痕(hen)(hen)的記(ji)(ji)錄(lu)可采用(yong)膠帶法、照相法以及其他(ta)有效(xiao)的方法。

以(yi)上內(nei)容摘自《齒輪驅動設計(ji)手冊》 化(hua)學工業(ye)出(chu)版社

兆威機電通過在齒輪及齒輪箱領域多年的設計、開發、生產，通過行業的對比及大量的實驗測試數據設計開發出行星減速電機,微型減速電機,齒輪箱電機,減速齒輪箱電機。