兆威機電通過在齒輪及齒輪箱領域多年的設計、開發、生產，通過行業的對比及大量的實驗測試數據設計開發出行星齒輪箱,微型減速電機,齒輪箱電機

行星齒輪箱中缺陷磁痕的評定可采用以下規定： 

1）磁(ci)粉檢驗的(de)所有缺陷磁(ci)痕的(de)尺寸(cun)、數量以(yi)(yi)及產(chan)生部位均應記(ji)錄(lu)，并圖示。磁(ci)痕的(de)記(ji)錄(lu)可采用膠帶法(fa)、照相法(fa)以(yi)(yi)及其他有效的(de)方法(fa);

2）長(chang)度(du)與寬度(du)之(zhi)比大于(yu)(yu)3的缺陷(xian)(xian)顯示(shi)磁(ci)痕，則按線性缺陷(xian)(xian)處(chu)理；長(chang)度(du)與寬度(du)之(zhi)比小于(yu)(yu)或(huo)等于(yu)(yu)3倍的缺陷(xian)(xian)顯示(shi)跡痕，則按圓形缺陷(xian)(xian)進行處(chu)理；

3）兩條(tiao)或(huo)兩條(tiao)以上缺陷(xian)顯示跡(ji)痕在同一直(zhi)線上，其間距小于或(huo)等(deng)于2mm時，則按一條(tiao)缺陷(xian)處(chu)理，其長度(du)為顯示跡(ji)痕長度(du)之和加間距；

4）除確認顯示痕跡是由(you)外界幾何因素(su)或(huo)(huo)操作不(bu)當造成(cheng)的之外，其他大于或(huo)(huo)等于0.5mm的顯示痕跡均(jun)應作為缺陷側很處理.

以上內容摘自《齒輪驅動設計(ji)手(shou)冊》 化(hua)學工業出版(ban)社

兆威機電成立來，教授,博士,碩士等組成的微型減速電機研發團隊，為博世等研發生產微型減速電機，齒輪箱電機，行星齒輪箱等產品，因(yin)為專(zhuan)注，所(suo)以。